扩展数据图3:依赖的子循环延迟样品厚度。
![扩展数据图3](https://media.springernature.com/full/springer-static/esm/art%3A10.1038%2Fs41586-022-05190-2/MediaObjects/41586_2022_5190_Fig7_ESM.jpg)
测量子循环延迟δsc和它的标准误差WSe的不同部位2样品与E峰MV = 6.2厘米−1和Φ近红外光谱= 12μJ厘米−2。60 nm(橙色)和25 nm(紫色)厚的区域晶体产生同样的平均价值⟨δsc⟩(虚线)内的平均误差(阴影区域)。
测量子循环延迟δsc和它的标准误差WSe的不同部位2样品与E峰MV = 6.2厘米−1和Φ近红外光谱= 12μJ厘米−2。60 nm(橙色)和25 nm(紫色)厚的区域晶体产生同样的平均价值⟨δsc⟩(虚线)内的平均误差(阴影区域)。